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    免费下载 下载该文档 文档格式：PDF   更新时间：2009-06-01   下载次数：0   点击次数：3

    可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成...基本上还停留在实验阶段. ...逻辑内嵌自测试LBIST(Logic BIST)是针对数字逻辑电路...

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